测量时间30秒-200秒
测量范围Na~U
是否进口否
测量精度1ppm
重量65Kg
金属合金分析仪新型测试仪,采用新一代探测器及多道技术,实现超高计数率,1秒出结果,准确分析贵金属含量。同时,具备二维平台及高清工业摄像头,实现样品定位。(可对99.99%黄金进行有效分析)
性能特点
快,1秒钟出结果
1、采用行业的速探测器技术——(X-SDD)分辨率至125eV
优势:探测面积大(面积达25m㎡)、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好
对贵金属的探测效率更高,探测信噪比更强,检出限更低
2、采用行业的数字多道技术
优势:有效提高输出效率,实现超高计数率,保证采集有效计数率超过30WCPS
3、采用大功率X光管及的准直滤光系统
优势:使贵金属的激发效率更高
4、光闸系统
优势:样品更换无需关闭高压,提高测试效率与测试精度
精密的定位系统
超高清晰工业摄像头,更清晰的显示测试点
多点测试
2D全自动样品台——可实现图像联动控制,多点连续测试
超小样品检测——小可测到0.2毫米
8种准直器、4种滤光片快速切换功能,可根据不同样品进行选择
准直器小可达0.2毫米,针对超小样品可准确聚焦检测
可区分99.9%及99.99%黄金纯度
可测量贵金属中有害元素,铅、镉等
人性化的设计
更安全:X射线联动安全装置----光闸与联动装置互动;仪器外壳与高压使能端相联动
更快捷:多点测试,点哪测哪
预约预热:根据设定时间,仪器可定时开始测试
预约开机预热功能:客户可预约仪器开机时间,同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态;同时可以实现预约关机,关机前可设定声光提示
应用领域
饰加工厂
金银珠宝饰店
贵金属冶炼厂
质量检验部门
分析测试中心
典当行
贵金属回收
金属材质分析仪主要特点:
1、该系统由电脑控制,可完成绝大多数金属材料中元素的含量测定。系统程序的编制采用目前时尚的可视化编程语言,因此系统的能强大,界面友好,系统的操作简单快捷。
2、系统在分析过程中,零点和满度自动跟随,并由电脑进行定标,保证了测量精度。
3、配备了电子天平,实现了分析过程的不定量称样,提高了系统的分析速度。
4、测试软件能齐全,能完全替代传统化验室的各项手工书写工作,并可根据各单位实际需求,任意设置检测报告格式,并可输入任意检测条件查询历史数据;各元素检测报告一次性打印,不需将C、S的检测结果分开打印。
5、仪器的关键部件---微压传感器,特别选用进口。保证了仪器的测量精度、仪器的稳定性和使用周期。
6、拥有技术的控制电,确保了仪器工作程序的可靠性。
由于合金具有许多优于纯金属的特性,故在实际生产,生活的材料应用中大多使用合金材料。并且为便于合金材料的使用,世界各国均根据本国的实际情况对合金材料依据其所具有的物理性能(如比重、熔点、导电性、导热性、热膨胀性、磁性等)、化学性能(耐用腐蚀性、抗氧化性),力学性能(机械性能)制定了符合本国实际应用的合号。在实际应用中,设计师只需要根据设计需要选用适当牌号的合金材料即可。
根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求,应用新一代的高压电源和X光管,提高产品的可靠性;利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率。
应用领域
固废快速检测
地矿与合金(铜、不锈钢等)成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测
主用于固废行业、贵金属加工和饰加工行业;银行、饰销售和检测机构;电镀行业
性能优势
下照式:可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片:多种准直器和滤光片的电动切换,满足各种测试方式的应用
平台:精细的手动平台,方便定位测试点
高分辨率探测器:提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管:性能稳定可靠,实现更高的测试效率
技术参数
元素分析范围:磷(P)~铀(U)
检出限:1ppm
分析含量:ppm~99.99%
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
环境温度:15℃~30℃
电源:交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率:144±5eV
样品腔尺寸:439mm×300mm×50mm
仪器尺寸:550mm×410mm×320mm
仪器重量:45kg
仪器配置
样品平台
信噪比增强器
SDD探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
合金种类繁多,应根据样品材质选择不同的前处理方法,包括酸溶、碱熔、富集分离等。
合金种类有很多,不同的样品前处理方法也不同,一般前处理所用的试剂有、氢氟酸、、、等。
X射线荧光光谱分析仪,利用X射线激发元素特征能谱,并对特征能谱进行侦测的原理,真正实现了对合金材料的,快速,无损的检验。并且该型号光谱分析仪配备了多种类型的合号库,在元素鉴别的同时,即对合金的牌号进行了相应分析。
X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率; 采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比; 采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性; 利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度;采用相似自动分类技术使分类更准确,有效地克服基效应对测量带来的影响;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器,摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
技术指标
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—99.99%
同时分析元素:24种元素同时分析
测量镀层:镀层厚度测量薄至0.005微米,可分析5层以上的镀层
分析精度:0.05%
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
能量分辨率为:(150±5)eV
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
测试结果将会与合金规格库中各元素的含量范围值进行比对,根据各元素的测试精度,设定不同元素的权重,终计算出样品的匹配牌号。
Cu合金种类繁多,不同元素在不同的铜合金的中含量范围较大,对各类不同元素的的测试需选择不同的铜合金曲线。主要杂质元素常量的测试精度:Mn,Fe,Ni, Cu,Zn, Sn, Pb。Cu;需要客户判断测试以上几个元素,是否可以达到终检测目的。如果不能达到客户目的,可以选择其它化学方法进行测试。
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