含量检测精度<1%
外形尺寸576(W)*495(D)*545(H)
型号Thick800A
电源电压220V±5V
测量范围0.005um
在变电系统中,高压隔离开关主要用于高压线路无负载换接、以及对被检修的高压母线、断路器
等电气设备与带电高压线路之间的电气隔离,是电力系统中使用范围为广泛的高压开关设备。根据
电网相关文件要求,导电回路的动接触部位或对接触电阻要求较高的连接部位应镀银处理且厚度
必须满足相关要求,EXPLORER5000T不仅可以对隔离开关上的Ag/Cu进行有效分析,而且还可以
对铜及铜合金与铜或铝的搭接铜端的镀锡层、常用钢结构件应热浸镀锌层等镀层进行快速分析,结果
准确可靠,为电力电气行业金属技术监督提供技术支持,对**电厂和电网安全运行具有重要意义。
微型光管、Fast-SDD探测器、微型数字信号多道处理器及智
能分析模块核心技术的引入,使其具有台式相近的测试精
度。
三重安全防护功能:
a: 自动感应,没有样品时仪器不工作,无射线泄漏。
b: 采用加厚防护测试壁,有效防止散射。
c: 配送防护安全罩,防周边轻基体散射。
安全联动锁装置,当软件无法控制关闭,轻轻一按,时间
保护您的安全,守护后关卡。
重量轻,体积小,人体工程学把手设计,配有仪器套,
更易抓握,野外使用更方便。
无需制备样品,可直接对待测物表面进行测定。仪器既可手
持进行快速测试,也能使用测试座对样品进行较长时间的精
细测试。
内置记忆电池,换电池不断电。
选配超大27000mAh锂电池,续航工作时间可达三天。并配备交流和车载充电器,保证电力供应。
270 °可旋转5寸高清屏,支持多点操控,任何光线下都能清
晰显示。
密封式一体设计,具备防水防尘功能,可在恶劣环境下连续
使用。
无损快速检测,对准即测,数秒即可报结果。性能堪比台式
机,检测效果既快又准。
SDD半导体探测器,分辨率低可达125eV,镀层厚度检
出限0.01um,实现超薄膜厚分析要求,软件搭载FP法可同
时分析合金镀层厚度和成分。
选配合金分析模块,可同时检测钛、钒、铬、锰、铁、钴、
镍、铜、锌、镓、锗、锆、铌、钼、钌、铑、钯、银、铟、
锡、锑、铪、钽、钨、铼、铂、金、铅、铋等元素,可以根
据客户需求定制元素。
技术参数
分析方法能量色散X荧光分析方法
测量元素范围原子序数为12~92「镁(Mg)到铀(U)】之间的元素均可测量
分析厚度范围0.01~50um(实际分析范围随元素种类和层数不同)
分析层数高可达五层
分析时间5~30秒
曲线类型基本参数FP法和经验系数EC法
50KV/激发源 200uA-银端窗一体化微型X光管及高压电源
安全性
多重安全防护,不测试,无,工作时的水平远低于国际安全标准,且具有无样品空测,
自动关X光管功能。标配屏蔽罩、加厚仪器合金测试壁。
仪器外形尺寸244(长)x 90(宽)x 330(高)
仪器重量1.7Kg
性重金属分析软件,采用智能一键测试和智能判断功能
数据传输数字多道技术,SPI数据传输,快速分析,高计数率;防水迷你USB,并且可以外接台式电脑。
仪器重量1.7Kg
操作环境湿度≤90%
智能三色预警
指示系统
通电开机时绿色电源指示灯亮,测试时红色警告指示灯闪烁,
设备出现故障指示灯闪烁。
附 件
三防保护箱,具有抗压、防水和减震作用。通用充电器及车载充电器,4G SD存储卡和读卡器,
两块锂电池及充电器,PDA附件,屏蔽罩。选配件:超大电池,座式测试支架,蓝牙打印机,粉碎机,
手动压样机,多种目筛等
镀层测厚行业应用
五金建材
水暖卫浴
汽车饰件
电力电气
荧光测厚度,此方法适用于测量厚度>0.01μm的金属膜层,可同时测量多层;测量前需知道样品的镀膜工艺信息(如基材材料、膜层材料及顺序);可以实现无损检测
电泳涂装在工业中广泛应用,该工艺主要是胶体颗粒在电场的作用下沉积在电极上。电泳沉积过程,又分为阴极浸涂(CDC)和阳极浸涂(ADC)。阴极浸涂也称为“电泳涂装”,它是将工件浸渍在电泳涂料槽的一种电化学涂装工艺,十分适合浸涂大批量及结构复杂的涂覆件。电泳涂装成为了保证车身防腐的标准工艺。
涂层厚度直接影响电泳涂装的许多性能:一方面,促进腐蚀物质的扩散屏障会随着涂层厚度的增加而,如水和氧;另一方面,涂层的机械阻力会随涂层厚度的减小而。解决方法是在涂装工艺中将漆膜厚度有效控制在小的允许容差范围内。
无损膜厚测试与金属元素分析,很多品质工程、项目开发人员对该领域都比较陌生,常常询问:“这个设备能分析这个金属成分吗?”而对于检测人员,往往受制于膜厚设备的不可自主编程性以及金属成分分析需要很强的性,导致对设备的熟悉程度仅仅局限于操作。
磁感应原理,即是利用从测头经过非铁磁覆层流入铁磁基体的磁通大小,测定覆层厚度。也可以通过测定对应的磁阻大小,表示其覆层厚度。覆层越厚,磁阻越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,原则上导磁基体上要有非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500μ以上。如果覆层材料也有磁性,则要求与基材的导磁率之差足够大。当磁芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时,仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头,测量感应电动势的大小,仪器将该信号放大后转换成覆层厚度。电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等新技术,利用磁阻来调制测量信号。的设备还采用设计的集成电路,引入微机,使测量精度和重复性达到大幅度的提高
X射线的能量穿过金属镀层的同时,金属元素其电子会反射其稳定的能量波谱。通过这样的原理,设计出膜厚测试仪,又称金属镀层厚度测量仪,其不同之处为其既是薄膜厚度测试仪,也是薄膜表层金属元素分析仪,因响应全球环保工艺准则,故目前市场上普遍使用的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。
台式的荧光X射线膜厚测试仪,是通过一次X射线穿透金属元素样品时所产生低能量的光子,俗称为二次荧光,,再通过计算二次荧光的能量来计算厚度值
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